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镨和镱掺杂Ba2 SiO4:Eu2+荧光材料的合成与发光性能

来源期刊:中国稀土学报2009年第1期

论文作者:李振华 胡小野 钟丹 李永绣

关键词:铕掺杂硅酸钡; (镨,镱)共掺杂; LED荧光粉; 稀土;

摘    要:采用高温固相反应法分别合成了变价稀土镨和镱离子掺杂的绿色荧光粉[Ba(2-n-1.5x)REx]SiO4:nEu2+ (n=0.03, RE=Pr, Yb;x=0, 0.02,0.05,0.10).结果表明: 所有合成荧光粉的激发峰均为250~400 nm的宽峰, 与近紫外LED的发射光波长相匹配.发射峰位于450~550 nm之间, 是Eu2+的5d-4f跃迁的典型发射.Pr3+和Yb3+的掺入并未改变Ba2SiO4:Eu2+的相组成, 但对荧光强度的影响大, 且与掺杂元素、掺杂量和煅烧温度相关.当掺杂Pr3+和Yb3+的量为x=0.02时, 经1150 ℃煅烧所得荧光粉的发光强度分别是未掺杂时的595%和168%.证明三价稀土离子掺杂可以导致基质中的电荷缺陷而敏化Eu2+离子的发光, 而变价稀土离子的掺杂可以大大提高电荷缺陷, 导致荧光强度的进一步提高.

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镨和镱掺杂Ba2 SiO4:Eu2+荧光材料的合成与发光性能

李振华1,胡小野1,钟丹1,李永绣1

(1.南昌大学稀土与微纳功能材料研究中心,南昌大学化学系,高等研究院,江西,南昌,330031)

摘要:采用高温固相反应法分别合成了变价稀土镨和镱离子掺杂的绿色荧光粉[Ba(2-n-1.5x)REx]SiO4:nEu2+ (n=0.03, RE=Pr, Yb;x=0, 0.02,0.05,0.10).结果表明: 所有合成荧光粉的激发峰均为250~400 nm的宽峰, 与近紫外LED的发射光波长相匹配.发射峰位于450~550 nm之间, 是Eu2+的5d-4f跃迁的典型发射.Pr3+和Yb3+的掺入并未改变Ba2SiO4:Eu2+的相组成, 但对荧光强度的影响大, 且与掺杂元素、掺杂量和煅烧温度相关.当掺杂Pr3+和Yb3+的量为x=0.02时, 经1150 ℃煅烧所得荧光粉的发光强度分别是未掺杂时的595%和168%.证明三价稀土离子掺杂可以导致基质中的电荷缺陷而敏化Eu2+离子的发光, 而变价稀土离子的掺杂可以大大提高电荷缺陷, 导致荧光强度的进一步提高.

关键词:铕掺杂硅酸钡; (镨,镱)共掺杂; LED荧光粉; 稀土;

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