X荧光光谱仪的误差来源及基体效应校正

来源期刊：现代矿业2017年第4期

论文作者：文辉

文章页码：162 - 329

关键词：荧光光谱仪;误差分析;基体效应;

摘    要：荧光光谱技术（XPF）是重要的化学分析检测技术手段,尽可能地降低测试误差是提高测试质量的重要方法。在分析岛津MXF-2400型X荧光光谱仪工作原理的基础上,分析了影响仪器测试结果的内、外在因素。外在因素如操作方法、样品类型及样品制备等,内在因素主要是基体效应的校正方法,如内标法、标准加入法及散射比法等。在实际测试时,要遵守操作规程,根据待测物的特点选择合适的样品制备方法,并采用适宜的基体效应校正手段精确校正,最大程度地降低各种因素对测试结果精度的影响。