粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素

来源期刊：冶金分析2012年第12期

论文作者：张爱芬 刘帅 马慧侠 刘静

文章页码：51 - 56

关键词：X射线荧光光谱;粉末压片法;氧化铝;杂质元素;

摘    要：介绍了X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素的方法。研究了粉末压片法中助研剂丙二醇的选择和用量,考察了氧化铝粒度对X射线荧光强度的影响。试验表明,样品的粒度达到40μm以下,粒度效应减弱;对于10.0g氧化铝样品,加2滴丙二醇,研磨40s,并用硼酸镶边垫底,制备的测量样片效果较好。用系列氧化铝标准样品作校准曲线,对样品中11个元素进行测定,其SiO2、Fe2O3、Na2O、K2O、CaO、Ga2O3、ZnO测得结果的相对标准偏差(RSD)均小于8.0%,P2O5、TiO2、V2O5、Cr2O3的含量在3倍检出限以上,RSD小于10%,含量在3倍检出限以下的RSD小于17%。用氧化铝标准样品验证,测量结果与标准样品的认定值基本一致。