基于五元助熔剂的高频-红外吸收法测定硅铁中碳、硫含量
来源期刊：分析试验室2015年第6期
论文作者：任旭东 张术杰 吴文琪 张翼眀 郝茜
文章页码：740 - 744
关键词：高频-红外吸收法;硅铁;碳含量;硫含量;助熔剂;
摘 要：以EMIA-820V型高频-红外碳硫分析仪为测量仪器,采用W,Sn,Fe,M o和Ni混合的五元助熔剂法对硅铁中C,S的含量进行了测定。通过对分析电流、称样量、助熔剂配比等条件实验的优化,确定了最佳分析条件为:分析电流175 m A,称样量0.1060.156g,助熔剂配比W 1.2 g+Sn 0.5 g+Fe 0.5 g+M o 0.045 g+Ni 0.05 g。结果熔样后坩埚光滑无飞溅,数据精密度RSD<7.0%,测定范围为C:0.0030%0.025%,S:0.0030%0.025%。本方法相比国标方法实现了碳、硫同时测定,扩大了碳、硫测定的含量范围。本法可满足硅铁合金中碳、硫量的日常分析,且为硅铁合金中碳、硫量分析的国家标准修订提供依据,为多元助熔剂法的应用提供参考。
任旭东1,2，张术杰1,2，吴文琪1,2，张翼眀1,2，郝茜1,2
1. 包头稀土研究院2. 稀土冶金及功能材料国家工程研究中心
摘 要：以EMIA-820V型高频-红外碳硫分析仪为测量仪器,采用W,Sn,Fe,M o和Ni混合的五元助熔剂法对硅铁中C,S的含量进行了测定。通过对分析电流、称样量、助熔剂配比等条件实验的优化,确定了最佳分析条件为:分析电流175 m A,称样量0.1060.156g,助熔剂配比W 1.2 g+Sn 0.5 g+Fe 0.5 g+M o 0.045 g+Ni 0.05 g。结果熔样后坩埚光滑无飞溅,数据精密度RSD<7.0%,测定范围为C:0.0030%0.025%,S:0.0030%0.025%。本方法相比国标方法实现了碳、硫同时测定,扩大了碳、硫测定的含量范围。本法可满足硅铁合金中碳、硫量的日常分析,且为硅铁合金中碳、硫量分析的国家标准修订提供依据,为多元助熔剂法的应用提供参考。
关键词：高频-红外吸收法;硅铁;碳含量;硫含量;助熔剂;
