基于遗传算法的磁光记录薄膜的温度特性计算
来源期刊：磁性材料及器件2000年第1期
论文作者：胡煜 王可 李佐宜
关键词：磁光记录薄膜; 平均场理论; 遗传算法;
摘 要：介绍了计算磁光记录薄膜温度特性的基本原理,提出了RE-TM磁光记录薄膜温度特性计算的遗传算法.着重分析了算法实现中的关键步骤,包括适应函数的选取及定标、遗传算子的选取.实验证明该算法快速有效, 收剑性好.
胡煜1，王可1，李佐宜1
(1.华中理工大学电子科学与技术系,湖北武汉,430074)
摘要:介绍了计算磁光记录薄膜温度特性的基本原理,提出了RE-TM磁光记录薄膜温度特性计算的遗传算法.着重分析了算法实现中的关键步骤,包括适应函数的选取及定标、遗传算子的选取.实验证明该算法快速有效, 收剑性好.
关键词:磁光记录薄膜; 平均场理论; 遗传算法;
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