一种用于波长色散X射线荧光光谱仪的流气式正比计数器的研制

来源期刊：冶金分析2019年第10期

论文作者：周超 宋春苗 胡学强

文章页码：14 - 17

关键词：流气式正比计数器;波长色散;信号处理;精密度;稳定性;分辨率;

摘    要：流气式正比计数器（F-PC）是波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）常用的探测器。传统的F-PC一般采用1～6μm的镀铝聚丙烯薄膜作为光窗,采用模拟运放进行信号放大,存在X射线透过率低、光窗耐久度差、信号放大倍数不可调等问题。基于具有金属网格支撑的0.6μm镀铝聚丙烯膜、数字可调信号放大技术,研制了一种可在真空中使用的F-PC,提高了X射线透过率和薄膜的耐久度,实现了阳极脉冲信号放大倍数连续可调。将上述F-PC用于顺序式波长色散X射线荧光光谱仪,依照国家计量检定规程JJG 810—1993对整机进行了精密度、稳定性、探测器分辨率的考察。精密度考察发现,纯铝块样品中AlKα计数值的相对标准偏差（RSD,n=20）为0.086%;稳定性考察发现,铬镍不锈钢块样品中NiKα计数值的相对极差（n=400）为0.193%;使用纯铝块样品计算F-PC能量分辨率R为39.03%。以上结果均达到该检定规程中A级指标要求。